DIR 2025

欢迎参加由我们战略业务发展团队的Antoine参与的为期三天的国际研讨会，本次活动聚焦于数字工业射线检测和计算机断层扫描，由COFREND、CEA List 和 DGZfP 联合主办。

此次研讨会旨在推动无损检测与评估（NDT/NDE）领域在技术、应用及质量保障方面的高水平交流。

会议向科研人员、工业用户、设备供应商和学术界全面开放，内容包括专家报告、前沿无损检测设备展示、交流机会以及工业现场参观。

不要错过与全球无损检测领域交流、了解最新数字成像创新成果的宝贵机会！